■パソコンで測定する　AIボード編　その３（同時サンプル） 　　　前回説明したように、ＡＩボードの信号の基準化には２種類の方法がありました。 　　　ＡＩボードは通常複数ＣＨの同時サンプルをおこなえる構造になっています。 　　　ここでは、各基準化での複数ＣＨの測定について説明します。 　　1.差動測定システム 　　　複数の入力ＣＨをアナログマルチプレクサで切替、差動測定システムに信号を入力します。 　　　このシステムでは、複数のアナログ入力を完全に独立した形（各入力ごとに基準がとれる）で同時サンプルできます。 　　　差動測定システムのメリットを最大限に利用できますが、他の測定システムに比べて同時サンプルＣＨが半分になります。 　　2.非基準シングルエンド測定システム 　　　これは、「差動測定システム」と同様、入力側の片側を接地しないで、共通にしてあります。 　　　基準となるレベルが共通の場合、「差動測定システム」の２倍のＣＨ分同時サンプルできます。 　　3.基準シングルエンド測定システム 　　　前記２つの測定方法と異なり、基準を接地として測定をおこないます。 　　　これも、「差動測定システム」の２倍のＣＨ分同時サンプルできます。 　　各測定システムには、それぞれメリット・デメリットがあります。 　　効率だけでなく、被測定物の特性や耐ノイズ性などを考慮して選択する必要があります。

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